光電綜合實(shí)驗(yàn)平臺針對光電器件應(yīng)用開發(fā)而設(shè)計(jì),由光學(xué)平臺、數(shù)字儀表及電子元器件平臺、線/面陣CCD相機(jī)的原理與應(yīng)用及數(shù)據(jù)采集輸入輸出端口、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、線/面陣CCD相機(jī)數(shù)據(jù)采集軟件等部分構(gòu)成,平臺配備各種電源接口及0-200V高壓可調(diào)電源和0-12V低壓可調(diào)電源,可為學(xué)生搭建各種實(shí)驗(yàn)電路提供電源。學(xué)生能夠利用平臺自行搭建各種光學(xué)系統(tǒng)、光電傳感器的變換及處理電路,完成各種關(guān)于光電技術(shù)方面的應(yīng)用開發(fā)設(shè)計(jì),從各方面提高學(xué)生的動(dòng)腦動(dòng)手能力及創(chuàng)新意識,幫助高校培養(yǎng)光電技術(shù)人才。
能夠完成下述實(shí)驗(yàn)內(nèi)容:
光電傳感器件原理與特性的實(shí)驗(yàn)
1、光源發(fā)光光譜特性實(shí)驗(yàn);
2、光度輻射度參數(shù)測量的實(shí)驗(yàn);
3、光敏電阻特性參數(shù)及其測量;
4、光敏電阻伏安特性實(shí)驗(yàn);
5、光敏電阻的變換電路;
6、光敏電阻時(shí)間響應(yīng)特性;
7、光電二極管光照靈敏度的測量;
8、光電二極管伏安特性的測量;
9、光電二極管時(shí)間響應(yīng)特性的測量;
10、硅光電池在不同偏置狀態(tài)下的特性參數(shù)及其測量;
11、測量硅光電池在反向偏置下的時(shí)間響應(yīng);
12、光電三極管光照靈敏度的測量;
13、光電三極管伏安特性的測量;
14、光電三極管時(shí)間響應(yīng)的測量;
15、光電三極管光譜特性的測量;
16、光電耦合器電流傳輸比的測量;
17、光電耦合器件伏安特性的測量;
18、光電耦合器件時(shí)間相應(yīng)的測量;
19、熱釋電器件基本原理實(shí)驗(yàn);
20、熱釋電器件光譜響應(yīng)的測試實(shí)驗(yàn);
21、PSD位移傳感器特性參數(shù)的測量;
22、雪崩光電二極管(APD)特性實(shí)驗(yàn);
23、PIN光電二極管特性實(shí)驗(yàn);
24、四象限光電傳感特性實(shí)驗(yàn);
25、光電倍增管陽極暗電流Id的測量;
26、光電倍增管的靈敏度Sa與電源電壓Ubb的關(guān)系;
27、光電倍增管的電流增益G的測量;
28、測量LED正向電壓;
29、測量LED反向電壓;
30、測量LED的正向工作電流;
31、測量LED的反向工作電流;
32、測量發(fā)光光源的半發(fā)光強(qiáng)度的角度;
33、測量發(fā)光光源中心軸與機(jī)械軸的偏差角;
34、測量LED的發(fā)光光譜;
35、測量LD半導(dǎo)體激光器的發(fā)光光譜。
光電檢測技術(shù)實(shí)驗(yàn)
1、線陣CCD原理與驅(qū)動(dòng)實(shí)驗(yàn);
2、線陣CCD尺寸測量實(shí)驗(yàn);
3、線陣CCD角度測量實(shí)驗(yàn);
4、利用線陣CCD識別條形碼;
5、利用線陣CCD測量物體位置和振動(dòng);
6、利用線陣CCD進(jìn)行物體掃描;
7、光柵與莫爾條紋實(shí)驗(yàn);
8、利用夫瑯和費(fèi)衍射進(jìn)行的測量;
9、面陣CCD原理與驅(qū)動(dòng)實(shí)驗(yàn);
10、利用面陣CCD測量物體外形尺寸;
11、利用面陣CCD提取物體的邊緣與輪廓;
12、利用面陣CCD進(jìn)行圖像采集與參數(shù)設(shè)置;
13、利用面陣CCD進(jìn)行投影與差影圖像分析;
14、利用面陣CCD進(jìn)行圖像的濾波與增強(qiáng);
15、利用面陣CCD進(jìn)行形態(tài)學(xué)處理;
16、利用面陣CCD進(jìn)行物體的旋轉(zhuǎn)與縮放;
17、利用面陣CCD對顏色識別;
18、利用面陣CCD進(jìn)行圖像信息的點(diǎn)運(yùn)算;
19、利用面陣CCD進(jìn)行圖像的幾何變換;
20、利用面陣CCD進(jìn)行數(shù)據(jù)采集實(shí)驗(yàn)。
現(xiàn)代光學(xué)實(shí)驗(yàn)
1、用遠(yuǎn)心照明光源測量薄凸透鏡的焦距;
2、位移法測量薄凸透鏡的焦距;
3、組裝顯微鏡系統(tǒng);
4、組裝透射式幻燈機(jī);
5、雙縫干涉原理與現(xiàn)象;
6、夫瑯和費(fèi)單縫衍射原理與現(xiàn)象;
7、夫瑯和費(fèi)圓孔衍射原理與現(xiàn)象;
8、利用夫瑯和費(fèi)衍射測量細(xì)絲直徑;
9、光的偏振實(shí)驗(yàn)。
CPLD應(yīng)用技術(shù)方面的實(shí)驗(yàn)
1、編寫與設(shè)計(jì)時(shí)鐘邏輯電路實(shí)驗(yàn);
2、編寫與設(shè)計(jì)2160像元的線陣CCD驅(qū)動(dòng)電路實(shí)驗(yàn);
3、編寫與設(shè)計(jì)線陣CCD二值化數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)邏輯電路;
4、編寫與設(shè)計(jì)流水線上測量通過某一工位工件數(shù)量的系統(tǒng)。